GB/T 24582-2023 Méthode d’essai pour mesurer la teneur en impuretés métalliques de surface du silicium polycristallin – Méthode d’extraction acide et de spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif

Numéro de Norme: GB/T 24582-2023 (GB/T24582-2023)
Chinois:多晶硅表面金属杂质含量测定 酸浸取-电感耦合等离子体质谱法
Français:Méthode d’essai pour mesurer la teneur en impuretés métalliques de surface du silicium polycristallin – Méthode d’extraction acide et de spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif

Date d’Entrée en Vigueur:2024-03-01
Autorité de Régulation:Administration nationale de normalisation de Chine
Autorité de Régulation émettrice:Administration d’État de la surveillance et de l’administration des marchés,Administration nationale de normalisation de Chine

Conforme aux normes internationales:N
Téléchargeable en PDF:Y

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