GB/T 30701-2014 Analyse chimique de surface – Méthodes chimiques pour la collecte d’éléments à la surface de matériaux de référence de travail en wafers de silicium et leur détermination par spectroscopie de fluorescence X à réflexion totale (TXRF)

Numéro de Norme: GB/T 30701-2014
Chinois:表面化学分析 硅片工作标准样品表面元素的化学收集方法和全反射X射线荧光光谱法(TXRF)测定
Français:Analyse chimique de surface – Méthodes chimiques pour la collecte d’éléments à la surface de matériaux de référence de travail en wafers de silicium et leur détermination par spectroscopie de fluorescence X à réflexion totale (TXRF)

Date d’Entrée en Vigueur:2014-12-01
Autorité de Régulation:Administration nationale de normalisation de la Chine
Autorité de Régulation émettrice:Administration générale de la supervision de la qualité, de l’inspection et de la quarantaine de la République populaire de Chine,Administration de la normalisation de Chine (SAC)

Conforme aux normes internationales:Y
Téléchargeable en PDF:N

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