GB/T 42676-2023 Méthode d’essai de la qualité cristalline d’un monocristal semi-conducteur – méthode de diffraction des rayons X

Numéro de Norme: GB/T 42676-2023 (GB/T42676-2023)
Chinois:半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法
Français:Méthode d’essai de la qualité cristalline d’un monocristal semi-conducteur – méthode de diffraction des rayons X

Date d’Entrée en Vigueur:2024-03-01
Autorité de Régulation:Administration nationale de normalisation de Chine
Autorité de Régulation émettrice:Administration d’État de la surveillance et de l’administration des marchés,Administration nationale de normalisation de Chine

Conforme aux normes internationales:N
Téléchargeable en PDF:Y

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