GB/T 42907-2023 Méthode d’essai pour la durée de vie de la recombinaison des porteurs de charges excédentaires dans les lingots de silicium, les briques de silicium et les plaquettes de silicium – Capteur de courants de Foucault sans contact

Numéro de Norme: GB/T 42907-2023 (GB/T42907-2023)
Chinois:硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法
Français:Méthode d’essai pour la durée de vie de la recombinaison des porteurs de charges excédentaires dans les lingots de silicium, les briques de silicium et les plaquettes de silicium – Capteur de courants de Foucault sans contact

Date d’Entrée en Vigueur:2024-03-01
Autorité de Régulation:Administration nationale de normalisation de Chine
Autorité de Régulation émettrice:Administration d’État de la surveillance et de l’administration des marchés,Administration nationale de normalisation de Chine

Conforme aux normes internationales:N
Téléchargeable en PDF:Y

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