Numéro de Norme: GB/T 42975-2023 (GB/T42975-2023)
Chinois:半导体集成电路 驱动器测试方法
Français:Circuits intégrés à semi-conducteurs-Méthode de test du dispositif de pilotage
Date d’Entrée en Vigueur:2024-01-01
Autorité de Régulation:Ministère de l’industrie et des technologies de l’information (électronique)
Autorité de Régulation émettrice:Administration d’État de la surveillance et de l’administration des marchés,Administration nationale de normalisation de Chine
Conforme aux normes internationales:N
Téléchargeable en PDF:Y
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