Numéro de Norme: GB/T 43227-2023 (GB/T43227-2023)
Chinois:宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法
Français:Méthodes d’essai pour le film de protection par dépôt en phase vapeur dans l’espace sur les fils semi-conducteurs
Date d’Entrée en Vigueur:2024-01-01
Autorité de Régulation:Administration nationale de normalisation de Chine
Autorité de Régulation émettrice:Administration d’État de la surveillance et de l’administration des marchés,Administration nationale de normalisation de Chine
Conforme aux normes internationales:N
Téléchargeable en PDF:Y
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