GB/T 4937.32-2023 Dispositifs à semi-conducteurs-Méthodes d’essais mécaniques et climatiques-Partie 32:Inflammabilité des dispositifs à encapsulation platique(extérieurement induite)

Numéro de Norme: GB/T 4937.32-2023(GB/T4937.32-2023)
Chinois:半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
Français:Dispositifs à semi-conducteurs-Méthodes d’essais mécaniques et climatiques-Partie 32:Inflammabilité des dispositifs à encapsulation platique(extérieurement induite)

Date d’Entrée en Vigueur:2023-12-01
Autorité de Régulation:Ministère de l’industrie et des technologies de l’information (électronique)
Autorité de Régulation émettrice:Administration d’État de la surveillance et de l’administration des marchés,Administration nationale de normalisation de Chine

Conforme aux normes internationales:Y
Téléchargeable en PDF:N

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