Numéro de Norme: SJ/T 11210-1999(SJ/T11210-1999)
Chinois:石英晶体元件参数的测量 第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率fL和负载谐振电阻RL的测量方法及其他导出参数的计算
Français:Mesure des paramètres des éléments en quartz Partie 4 : Méthode de mesure de la fréquence de résonance de la charge fL et de la résistance de résonance de la charge RL des éléments en quartz jusqu’à 30 MHz et calcul d’autres paramètres dérivés
Date d’Entrée en Vigueur:1999-12-01
Portée standard:
Téléchargeable en PDF: N
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