Numéro de Norme: YS/T 679-2018(YS/T679-2018)
Chinois:非本征半导体中少数载流子扩散长度的测试 表面光电压法
Français:Test des longueurs de diffusion des porteurs minoritaires dans les semi-conducteurs non intrinsèques Méthode photovoltaïque de surface
Date d’Entrée en Vigueur:2019-04-01
Portée standard:
Téléchargeable en PDF: N
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